型号: TC1800 MK-II   扫描式分光色差计

波长:380~780nm‧波长间隔:5nm/81点

侦测器:光电倍增管(PMT)

光学系统:0 - d / d - 0 / d - 8 / 0 - 45 / 45 - 0法

符合标准:JIS Z-8722 , ASTM E1164

测定项目:反射及穿透

俱分光曲线图、偏色判定图、色坐标…等

特点:1.应用在不平整物体,如粒状物丝状物及纹路平面物,不会有方向性问题,再现性佳

2.采用分光光栅,双光束交照方式,具真正扫描式功能

型号: TC 1500 SX-II   简易型色差计

波长:380~780nm‧波长间隔:10nm/41点

侦测器:采用硅二极管

光学系统:0 - d / d - 0 / d - 8 / 0 - 45 / 45 - 0法(可依客户需求选定)

符合标准:JIS Z-8722 , ASTM E1164

测定项目:反射及穿透

俱分光曲线图、偏色判定图、色坐标…等

型号: SP 80   简易型色差计

测定原理:以三刺激值X,Y,Z,Filter方式

积分球径: 60mmφ

侦测器:采用硅二极管

光学系统:0 - d法

全自动零点,标准调整

测定项目:反射及穿透

型号: TC8600A   简易型色差计

测定原理:以三刺激值X,Y,Z,Filter方式

积分球径: 150mmφ

侦测器:采用硅二极管

光学系统:0 - d法

全自动零点,标准调整

测定项目:反射及穿透

型号: TC108DPA  多角度光泽度计

符合标准:JIS Z-8741 , ISO- 2813 , ASTM D 2457 DIN 67530

量测角度:20°,45°,60°, 75°,85°,0 ~ 45°

全自动校正

侦测器:采用硅二极管

型号: GP-60A 单一角度光泽度计

量测角度：60°~ 60°

型号: TC H-III   雾度计

原理:利用扩散光与穿透光计算而得Haze

符合标准:JIS K-7105

侦测器:采用硅二极管

型号: TCH-III DPK 雾度计

原理:利用扩散光与穿透光计算而得Haze

符合标准:JIS K-7105

侦测器:采用硅二极管

型号: TR 200P  黑色度反射率计

符合标准:JIS K-6221

侦测器:采用硅二极管

型号: TC 1800M 微小面积色差计

波长:380~780nm‧波长间隔:5nm/81点

侦测器:采用光电倍增管(PMT)

光学系统:反色测定   45 - 0法、穿透测定  0 - 0 法

测定面积:反射  最小达0.1mm‧穿透 最小达0.02mm

俱分光曲线图、偏色判定图、色坐标…等