型號: TC1800 MK-II   掃描式分光色差計

波長:380~780nm•波長間隔:5nm/81點

偵測器:光電倍增管(PMT)

光學系統:0 - d / d - 0 / d - 8 / 0 - 45 / 45 - 0法

符合標準:JIS Z-8722 , ASTM E1164

測定項目:反射及穿透

俱分光曲線圖、偏色判定圖、色座標…等

特點:1.應用在不平整物體,如粒狀物絲狀物及紋路平面物,不會有方向性問題,再現性佳

2.採用分光光柵,雙光束交照方式,具真正掃描式功能

型號: TC 1500 SX-II   簡易型色差計

波長:380~780nm•波長間隔:10nm/41點

偵測器:採用矽二極體

光學系統:0 - d / d - 0 / d - 8 / 0 - 45 / 45 - 0法(可依客戶需求選定)

符合標準:JIS Z-8722 , ASTM E1164

測定項目:反射及穿透

俱分光曲線圖、偏色判定圖、色座標…等

型號: SP 80   簡易型色差計

測定原理:以三刺激值X,Y,Z,Filter方式

積分球徑: 60mmφ

偵測器:採用矽二極體

光學系統:0 - d法

全自動零點,標準調整

測定項目:反射及穿透

型號: TC8600A   簡易型色差計

測定原理:以三刺激值X,Y,Z,Filter方式

積分球徑: 150mmφ

偵測器:採用矽二極體

光學系統:0 - d法

全自動零點,標準調整

測定項目:反射及穿透

型號: TC108DPA  多角度光澤度計

符合標準:JIS Z-8741 , ISO- 2813 , ASTM D 2457 DIN 67530

量測角度:20°,45°,60°, 75°,85°,0 ~ 45°

全自動校正

偵測器:採用矽二極體

型號: GP-60A 單一角度光澤度計

量測角度：60°~ 60°

型號: TC H-III   霧度計

原理:利用擴散光與穿透光計算而得Haze

符合標準:JIS K-7105

偵測器:採用矽二極體

型號: TCH-III DPK 霧度計

原理:利用擴散光與穿透光計算而得Haze

符合標準:JIS K-7105

偵測器:採用矽二極體

型號: TR 200P  黑色度反射率計

符合標準:JIS K-6221

偵測器:採用矽二極體

型號: TC 1800M 微小面積色差計

波長:380~780nm•波長間隔:5nm/81點

偵測器:採用光電倍增管(PMT)

光學系統:反色測定   45 - 0法、穿透測定  0 - 0 法

測定面積:反射  最小達0.1mm•穿透 最小達0.02mm

俱分光曲線圖、偏色判定圖、色座標…等