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 美國Brookhaven Instruments Inc |
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型號:BI-90 plus
動態光散射奈米粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.002~5 μm |
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DLS & SLSsystem
動、靜態光散射分析儀
粒徑範圍: 0.001~5 μm
多角度測量粒徑及分子量 |
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型號:BI-Zeta Plus
光散射介面電位分析儀
粒徑範圍: 0.005~30 μm |
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型號:BI-Zeta Pals
光散射介面電位分析儀
粒徑範圍: 0.005~30 μm
(適用於高介電常數液體、高鹽度溶液及近等電位液體) |
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型號: FOQELS
高濃度奈米粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.002~2 μm |
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型號: BI-XDC
X-光離心沉降粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.01~100 μm |
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型號: BI-DCP
紅光-離心沉降粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.01~30 μm |
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型號:BI-MwA
分子量分析儀
分子量範圍: 103~107 Daltons |
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型號: BI-EKA
電動式介面電位分析儀
適用於大顆粒樣品 |
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型號: BI-DNDC
濃度/折射率分析儀 |
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型號: BI-870
介電常數量測儀 |
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型號: BI-9000AT
光子比對儀(Correlator)
最多可達522實際量測波數 |
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型號: BI-SFS
粒子過濾系統 |
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各種標準樣品 |
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德國Fritsch
GmbH |
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型號: Analysette 22 Nano
雷射光繞射+背光散射粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.01~1000 μm
乾、濕兩用量測 |
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型號: Analysette 22 Micro
雷射光繞射粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.1~600 μm
乾、濕兩用量測 |
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型號: Analysette 22 Compac
雷射光繞射粒徑分析儀
粒徑範圍: 0.3~300 μm
乾、濕兩用量測 |
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美國Dispersion
Technology |
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型號: DT-1200
音波式+電音波高濃度粒徑及介面電位分析儀
粒徑範圍: 0.01~100 μm
界面電位: -200~+200 mv |
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型號: DT-100
音波式高濃度粒徑及分析儀
粒徑範圍: 0.01~100 μm |
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型號: DT-300
電音波高濃度介面電位分析儀
界面電位: -200~+200 mv |
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型號: DT-500
On Line音波式+電音波高濃度粒徑及介面電位分析儀
粒徑範圍: 0.01~100 μm
界面電位: -200~+200 mv |
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美國Zeta-Meter |
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型號: system 3.0
電位: ± 124 mv
樣品顆粒: 0.5~100 μm
樣品體積: 20 ml |
產∣品∣介∣紹
* 粒徑、介面電位、動靜態光散射及分子量量測 ∣