奈米,微米壓印設備(硬度、刮痕及磨潤) CSM
Instruments 瑞士 |
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Micro-Hardness Tester
微米硬度測試儀
最大下壓力:30N |
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Nano-Hardness Tester
奈米硬度測試儀
最大下壓力:300mN |
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Marco Scratch tester "Revetest"
括痕測試儀
最大下壓力:1~200 N |
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Micro Scratch tester
微米括痕測試儀
最大下壓力:0.05~30 N |
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Nano Scratch tester
奈米括痕測試儀
最大下壓力:10μN ~1 N |
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AFM Microscope Objective
原子力顯微鏡鏡頭
最大掃瞄面積:X-Y= 40 x 40 μm、Z = 4 μm |
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Micro Tribometer
微米磨潤測試儀
標準荷重:1,2,5,10N. 最大至60N |
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High Temperature Tribometer
高溫型微米磨潤測試儀 |
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Vacuum Tribometer
真空型微米磨潤測試儀 |
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Nano Tribometer
奈米磨潤測試儀 |
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多功能平台 (可同時安裝4種不同功能探頭,如共焦顯微鏡,原子力顯微鏡,奈米及微米硬度測試,奈米及微米刮痕測試) |
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多功能平台 (可同時安裝4種探頭,共焦顯微鏡,原子力顯微鏡,奈米硬度測試,奈米刮痕測試) |
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Calotest
桌上型薄膜厚度測試儀
膜厚範圍:0.1~50 μm |
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Calotest
工業型薄膜厚度測試儀
膜厚範圍:0.1~50 μm |
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Calowear
薄膜厚度及磨耗測試儀 |