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* 掃瞄式探針(原子力)顯微鏡及其探針
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Seiko (SII NanoTechnology Inc)日本
型號:SPA 300HV
真空控溫型多功能掃瞄式探針顯微鏡
真空:10-7 torr
控溫:-120~800 ℃
解析度:X-Y=0.2nm,Z=0.01nm
型號:SPA 400
一般型多功能掃瞄式探針顯微鏡
解析度:X-Y=0.2nm,Z=0.01nm
型號:SPA 500
大樣品多功能掃瞄式探針顯微鏡
解析度:X-Y=0.5nm,Z=0.05nm
樣品尺寸:6、8吋
特點:可同時放 置5支探針
型號:SPA 465
半導體多功能掃瞄式探針顯微鏡
解析度:X-Y=0.2nm,Z=0.01nm
樣品尺寸:8、12吋
型號:Nanopics 2100
桌上型掃瞄式探針顯微鏡
最大掃瞄面積:800 x 800 μm
型號:SPN 4000
多功能掃瞄式探針顯微鏡控制器+Q控制功能
型號:SPN 3800N
多功能掃瞄式探針顯微鏡控制器
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