歡迎蒞臨富智科技股份有限公司 本站最佳瀏覽器為 IE5.0 以上版本\最佳視窗解析度為 800 * 600

 
 
 最新消息
 產品介紹
 原廠網站
 資料下載
 聯絡我們
   紹  * 接觸角及表面性質量測  奈米團簇層積系統  X-ray晶相繞射分析 上一頁

 動、靜態接觸角量測儀、表面張力量測儀 DataPhysics GmbH德國

型號: ACA 50
全自動晶元Wafer 表面接獲角量測儀
型號: DCAT 11
動態接觸角量測儀
型號: DCAT 21
高解析動態接觸角量測儀
型號: OCA 15plus
影像式接獲角量測儀
型號: OCA 30
全自動影像式接獲角量測儀
型號: OCA 20
影像式接獲角量測儀
型號: OCA 200
高速影像式接獲角量測儀
型號: PCA 100
手提影像式接獲角量測儀
型號: PCA 100
手提影像式接獲角量測儀
型號: SVT 20
微小介面張力量測儀
全自動12寸wafer接獲角量測儀(可置於無塵室)
中,小尺寸用,玻璃基板表面接獲角量測儀
大尺寸用(TFT 4.5、5、6代),玻璃基板表面接獲角量測儀
融熔高溫金屬專用,動、靜態接獲角量測儀

來信指教:webmaster@asi-team.com